原子力显微镜AFM仪器原理

原子力显微镜AFM仪器原理将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定 另一端有一微小的针尖 由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的作用力 通过在扫描时控制这种力的恒定 带有针尖的微悬臂将在垂直于样品的表面方向起伏运动

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分析原理:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的作用力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将在垂直于样品的表面方向起伏运动。从而可以获得样品表面形貌的信息

谱图的表示方法:微悬臂对应于扫描各点的位置变化

提供的信息:样品表面形貌的信息

原子力显微镜AFM仪器原理

 AFM原理:针尖与表面原子相互作用

AFM的扫描模式有接触模式和非接触模式,接触式利用原子之间的排斥力的变化而产生样品表面轮廓;非接触式利用原子之间的吸引力的变化而产生样品表面轮廓。

原子力显微镜AFM仪器原理

 接触模式

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原子力显微镜AFM仪器原理 

 

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