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AFM原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是一种高分辨率表面形貌和物理性质测量技术，能够直接观测纳米级别的表面形态、粗糙度、力学性质等。在进行AFM测试前，需要对样品进行制备，以保证测试的准确性和有效性。
一、样品制备要求：
样品表面应该是干净、平整和均匀的。任何污染物或不均匀的
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