国芯科技申请“一种控制芯片的测试电路及测试装置”专利,快速保护电路并确定过流故障程序段

国芯科技申请“一种控制芯片的测试电路及测试装置”专利,快速保护电路并确定过流故障程序段金融界 2024 年 7 月 16 日消息 天眼查知识产权信息显示 苏州国芯科技股份有限公司申请一项名为 一种控制芯片的测试电路及测试装置 公开号 CN1 2 申请日期为 2024 年 5 月

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金融界 2024 年 7 月 16 日消息,天眼查知识产权信息显示,苏州国芯科技股份有限公司申请一项名为“一种控制芯片的测试电路及测试装置”,公开号 CN1.2,申请日期为 2024 年 5 月。

专利摘要显示,本发明公开了一种控制芯片的测试电路及测试装置,涉及芯片测试领域,比较模块通过比较采样模块的采样结果和阈值调整模块当前输出的过流阈值,判断待测的控制芯片在当前的控制程序阶段是否出现工作电流的过流情况,并在控制芯片出现过流的情况下通过控制开关模块关断来切断供电电源对控制芯片的供电回路,实现对控制芯片的过流保护。对于不同的程序阶段,阈值调整模块会输出相应的过流阈值,从而实现对各个程序阶段的过流的检测,在过流发生时,能快速保护电路,也能有效确定导致过流的故障的程序段,利于后续工程人员排查,节省排除故障时间,利用一个测试电路就可以实现对各个控制芯片的测试过程,方便快捷,能够循环重复使用。

本文源自金融界

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