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现今市面上不同商家多种型号原子力显微镜（atomic force microscopy, AFM）设备并存，然而各自支持数据格式却不尽统一，这对AFM用户进行后期数据分析处理难免造成一些困扰。在此，谨整理一些不同的AFM数据后期处理方法，以方便有需求者。需要说明的是，在此列举的实例虽然受限于相关设备软件，但其想法可推广至其他AFM设备甚至其他扫描类显微镜。
1. 设备配套后处理软件
一些成熟的AFM设备除了配备相应的扫描控制软件之外，还会配备专有的图像后处理软件，比如Bruker公司AFM设备往往配备扫描控制软件Nanoscope及图像后处理软件Nanoscope Analysis，用户可在相应图像处理软件完成一些基本的图像处理操作如校平、3D视图、截面分析、滤波除燥、统计分析、频域分析、图像输出等。图1所示为Nanoscope Analysis 1.5图像处理软件界面。
然而，此类软件往往因设备商本身能力不同而导致质量层次不齐、功能受限，且由于往往跟随AFM控制器配备不提供公开版本而不便于用户随时随地多终端使用。同时，如果用户数据来源于多种设备，则对数据进行统一规范的处理将遭遇困难。
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