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一、 什么是AFM
AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。
AFM原理：针尖与表面原子相互作用
1985年，IBM公司的Binning和Stanford大学的Quate研发出了原子力显微镜(AFM)，弥补了STM的不足，可以用来测量任何样品(无论导电性与否)的表面。
AFM利用一个对微弱力极敏感的、在其一端带有一微小针尖的微悬臂，来代替STM隧道针尖，通过探测针尖与样品之间的相互作用力来实现表面成像的。
二、AFM原理
AFM的原理较为简单，它是用微小探针“摸索”样品表面来获得信息。
如下图所示，当针尖接近样品时，针尖受到力的作用使悬臂发生偏转或振幅改变。悬臂的这种变化经检测系统检测后转变成电信号传递给反馈系统和成像系统，记录扫描过程中一系列探针变化就可以获得样品表面信息图像。
AFM是在STM的基础上发展起来的。所不同的是，它不是利用电子隧道效应，而是利用原子之间的范德华力(Van Der Waals Force)作用来呈现样品的表面特性。
假设两个原子一个是在悬臂的探针尖端&#x
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